论文10:01
Bridging Quantum Computing Paradigms toward Semiconductor Yield: CV vs DV on Wafer-Map Defect Classification这篇论文用晶圆缺陷分类任务硬核对比了两种量子计算范式,CV在4个qumodes下比DV高出18个点,还解释了为什么。搞量子机器学习或半导体良率的朋友可以看看。
这篇论文用晶圆缺陷分类任务硬核对比了两种量子计算范式,CV在4个qumodes下比DV高出18个点,还解释了为什么。搞量子机器学习或半导体良率的朋友可以看看。