#缺陷检测

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信息流里打上「缺陷检测」标签的资讯、产品与论文，按刊登时间排，新的在上。

10月6日

半导体厂的朋友可以看看，讲的是怎么用显微镜图像训练网络，一套框架同时搞定关键尺寸提取和 nm 级缺陷检测。

arXiv cs.LG@Yan Guo 等 8 人原文

8月28日

论文精选73°18:07

MCR-Bench揭示了当前LLM在真实代码审查中的不足，特别是跨轮次时间对齐和长程记忆问题。

arXiv cs.AI@Dewu Zheng 等 8 人原文

7月30日

这篇论文用BlenderProc生成合成划痕数据，微调策略比纯真实数据训练效果更好，适合做工业质检的场景。

arXiv cs.AI@Paul Julius Kühn 等 6 人原文

5月21日

论文精选10:07

做生物信息学软件质量保障的团队终于有了专用数据集——BioDefect 比通用数据集 F1 提升近 40%，做缺陷检测研究的可以直接用它来训练和评估模型。

arXiv: DeepSeek@Tianxiang Xu 等 6 人原文

5月20日

论文精选11:09

做工业无损检测或AI可解释性研究的团队会感兴趣——p-ResNet-50在保持高精度的同时让黑盒模型变得可审计，航空质检场景可以直接参考其原型对齐方法。

arXiv cs.LG@Antonio Peña Corredor 等 5 人原文